MICRODYNAMICS Der Anbieter von Präzisions-Anilox-Inspektionssystemen, hat im Rahmen der kürzlich veröffentlichten MicroScan3 Version 3.5.0 eine neue Funktion für den »Weitwinkelmodus« veröffentlicht.
Der neue Softwaremodus verdoppelt das Sichtfeld auf die Rasterwalze, ohne dass Änderungen am bestehenden Veritas-Mikroskop erforderlich sind. Mit dem neuen Weitwinkelmodus können Veritas-Anwender mit nur einem Objektiv ein breiteres Spektrum an Rasterwalzen untersuchen.
Das neue Software-Update erweitert das Sichtfeld der Mikroskope auf die doppelte Breite und die doppelte Höhe. Dadurch können Drucker, die das Standardobjektiv 20x verwenden, einen größeren Bereich von Rasterweiten prüfen, von 120 lpi (47 L/cm) bis zu mehr als 1500 lpi (591 L/cm). Für diejenigen, die mit gröberen Beschichtungsrollen zu tun haben, ermöglicht eine 10x-Objektivoption die Inspektion von Rasterzahlen bis zu 60 lpi (24 L/cm).
Vor dieser exklusiven Innovation von MicroDynamics mussten Anilox-Inspektionsmikroskope häufig zwischen 4X-, 10X- und 20X-Objektiven gewechselt werden, um einen Rasterwalzen-Bestand zu messen, der eine Reihe von niedrigen und hohen Linienrastern abdeckt. Bei diesen Objektivwechseln besteht die Gefahr, dass ein teures Objektiv herunterfällt oder beschädigt wird. Mit dieser neuen Softwareversion werden die mit dem Objektivwechsel verbundenen Ausfallzeiten und Risiken eliminiert und die Anzahl der Rasterwalzen, die mit einem Objektiv geprüft werden können, erhöht. Der neue Weitwinkelmodus ermöglicht schnellere und einfachere Rasterqualitätskontrollmessungen mit dem von der FTA ausgezeichneten Veritas-Inspektionssystem. (Bildquelle: MicroDynamics)
